技术指标：

1. 扫描范围：600 nm×600 nm

2. 扫描精度：0.1 nm×0.1 nm

3. 空间分辨率：原子级空间分辨

4. 偏置电压：-4.5 V ～ + 4.5V

5. 电流检测灵敏度<10pA

6. 成像模式：恒电流模式，恒高度模式

功能特色：

1. 可以对导体、半导体样品进行高精度的表面形貌扫描，分辨率达原子级分辨。

2. 开放式的扫描头空间，可以联用自制的拉曼测试系统，实现针尖增强拉曼光谱的测试。

3. 双恒电位系统，可以进行电化学扫描隧道显微镜以及电化学针尖增强拉曼光谱技术的研究。

4. 通过改造的电路可以对针尖进行提拉修饰，提高针尖的成像分辨率。

5. 开发电导测试功能，可以对表面分子的电导进行准确的测量。

应用范围：

1. 对各种半导体、导体的表面形貌进行扫描，得到其高分辨的表面形貌图。

2. 结合电化学技术，适用于在电化学体系下的各种电极表面形貌分析研究。

3. 适用于分子电子学的研究。适用于分子的电导值的准确测试。

4. 结合针尖增强拉曼光谱技术，对样品表面的形貌信息以及指纹信息进行测试分析。